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?長(zhǎng)盛CS19011A/B局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀器

簡(jiǎn)要描述:?長(zhǎng)盛CS19011A/B局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀器是現(xiàn)代高可靠電力電子與電氣裝備不能缺少的“絕緣醫(yī)生"。其在IGBT、電子變壓器、電機(jī)、光耦等核心領(lǐng)域的深度應(yīng)用,是保障新能源汽車(chē)、可再生能源、智能電網(wǎng)、工業(yè)自動(dòng)化等關(guān)鍵產(chǎn)業(yè)安全高效運(yùn)行的技術(shù)基石。隨著電壓等級(jí)提升、功率密度增大和應(yīng)用環(huán)境惡化,PD測(cè)試的重要性將愈發(fā)凸顯,并持續(xù)向更高靈敏度、更強(qiáng)抗干擾、更智能診斷的方向演進(jìn)。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2025-06-19
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:22

詳細(xì)介紹

品牌長(zhǎng)盛儀器應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子/電池,汽車(chē)及零部件,電氣

局部放電(PD)測(cè)試作為評(píng)估高壓電氣設(shè)備絕緣系統(tǒng)健康狀態(tài)的核心手段,在保障現(xiàn)代電力電子設(shè)備可靠性方面發(fā)揮著不可替代的作用。其核心價(jià)值在于提前發(fā)現(xiàn)微觀絕緣缺陷、預(yù)防突發(fā)性擊穿故障、量化評(píng)估設(shè)備壽命。

關(guān)鍵測(cè)試領(lǐng)域深度分析

?長(zhǎng)盛CS19011A/B局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀器

1. IGBT模塊 (能源轉(zhuǎn)換核心器件)

應(yīng)用場(chǎng)景: 電動(dòng)汽車(chē)(800V+高壓平臺(tái))、軌道交通牽引變流器、風(fēng)力/光伏發(fā)電變流器、工業(yè)變頻器、大功率UPS。

關(guān)鍵失效機(jī)理:

制造缺陷: 陶瓷基板/硅凝膠內(nèi)氣泡、裂紋、雜質(zhì)導(dǎo)致電場(chǎng)畸變。

封裝老化: 溫度循環(huán)、機(jī)械振動(dòng)引發(fā)的分層、界面劣化。

動(dòng)態(tài)應(yīng)力: 高頻開(kāi)關(guān)下陡峭的dv/dt加劇局部放電風(fēng)險(xiǎn)。

PD測(cè)試核心目標(biāo):

精準(zhǔn)定位內(nèi)部絕緣缺陷(基板、凝膠、界面),預(yù)防早期擊穿。

驗(yàn)證高壓(數(shù)千伏)及動(dòng)態(tài)開(kāi)關(guān)工況下的長(zhǎng)期絕緣可靠性。

預(yù)測(cè)模塊壽命,滿(mǎn)足IEC 61287、IEC 60076等嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn),避免批量風(fēng)險(xiǎn)。

應(yīng)對(duì)SiC-IGBT等高功率密度器件帶來(lái)的更強(qiáng)電場(chǎng)挑戰(zhàn)。

2. 電子變壓器 (新能源與電力電子關(guān)鍵組件)

應(yīng)用場(chǎng)景: 光伏逆變器輔助電源、高頻開(kāi)關(guān)電源(工業(yè)/醫(yī)療)、新能源并網(wǎng)設(shè)備。

關(guān)鍵失效機(jī)理:

工藝損傷: 漆包線(xiàn)纏繞時(shí)絕緣層劃傷、折角應(yīng)力破壞。

材料短板: 不同材質(zhì)漆包線(xiàn)(聚酯、聚酯亞胺、聚酰胺酰亞胺)耐電暈性差異大,劣化產(chǎn)熱。

環(huán)境劣化: 溫濕度循環(huán)導(dǎo)致絕緣材料開(kāi)裂、分層。

PD測(cè)試核心目標(biāo):

評(píng)估變壓器在高頻、復(fù)雜工況下的絕緣壽命與可靠性。

確保符合IEC 60270 (GB/T 7354)、IEEE 436等核心標(biāo)準(zhǔn)。

識(shí)別制造工藝缺陷(繞線(xiàn)損傷)和材料選型問(wèn)題(耐電暈性不足),提升產(chǎn)品良率。

3. 電機(jī)定子及漆包線(xiàn) (電動(dòng)化核心動(dòng)力部件)

應(yīng)用場(chǎng)景: 新能源汽車(chē)驅(qū)動(dòng)電機(jī)、工業(yè)自動(dòng)化伺服電機(jī)、高效節(jié)能電機(jī)。

關(guān)鍵失效機(jī)理:

材料不均: 漆膜厚度波動(dòng)導(dǎo)致局部電場(chǎng)集中。

電暈侵蝕: 不同耐電暈等級(jí)漆包線(xiàn)在高壓下老化速率差異顯著。

環(huán)境老化: 溫濕度、振動(dòng)加速絕緣劣化,形成放電通道。

PD測(cè)試核心目標(biāo):

作為高壓電機(jī)(尤其電動(dòng)車(chē)驅(qū)動(dòng)電機(jī))絕緣系統(tǒng)可靠性的核心評(píng)判依據(jù)。

滿(mǎn)足IEC 60034-18-42等電機(jī)專(zhuān)用絕緣評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)要求。

實(shí)現(xiàn)漆包線(xiàn)批次質(zhì)量篩選和定子制造工藝優(yōu)化(如浸漆工藝),提升電機(jī)壽命。

4. 光耦合器 (高壓安全隔離關(guān)鍵元件)

應(yīng)用場(chǎng)景: 電動(dòng)汽車(chē)BMS/充電樁、智能電網(wǎng)設(shè)備、工業(yè)控制隔離接口、醫(yī)療設(shè)備安全柵。

關(guān)鍵失效機(jī)理:

材料缺陷: 硅膠/聚酰亞胺內(nèi)部氣泡、雜質(zhì)引發(fā)電場(chǎng)集中。

封裝風(fēng)險(xiǎn): 填充不完整、微小氣隙(空氣光耦)形成放電點(diǎn)。

絕緣退化: 長(zhǎng)期環(huán)境應(yīng)力導(dǎo)致材料開(kāi)裂、分層,喪失隔離能力。

PD測(cè)試核心目標(biāo):

預(yù)防隔離失效: 檢測(cè)絕緣缺陷,杜絕高壓竄入低壓側(cè)的安全事故。

驗(yàn)證絕緣結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)(爬電距離、電氣間隙)和封裝工藝可靠性。

確保符合光耦隔離安全標(biāo)準(zhǔn)IEC 60747-5-5。

為高可靠性應(yīng)用(汽車(chē)、電網(wǎng))提供關(guān)鍵元件準(zhǔn)入篩選依據(jù)。

局部放電測(cè)試的價(jià)值總結(jié)

?長(zhǎng)盛CS19011A/B局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀器

1. 缺陷早期預(yù)警: 在絕緣劣化初始階段(肉眼不可見(jiàn))精準(zhǔn)定位氣泡、裂紋、雜質(zhì)、分層等微觀缺陷。

2. 可靠性量化評(píng)估: 超越傳統(tǒng)通斷測(cè)試,通過(guò)PD量值(pC)預(yù)測(cè)設(shè)備剩余壽命。

3. 嚴(yán)苛工況驗(yàn)證: 評(píng)估器件在額定高壓、過(guò)壓、高頻開(kāi)關(guān)、溫度循環(huán)等動(dòng)態(tài)應(yīng)力下的絕緣穩(wěn)定性。

4. 全生命周期管控:

研發(fā)設(shè)計(jì): 優(yōu)化材料選型、絕緣結(jié)構(gòu)(如爬電距離)、封裝工藝。

生產(chǎn)制造: 100%在線(xiàn)或抽樣測(cè)試,進(jìn)行工藝監(jiān)控和缺陷品剔除。

質(zhì)量認(rèn)證: 滿(mǎn)足UL、IEC、IEEE、GB等國(guó)際國(guó)內(nèi)強(qiáng)制/準(zhǔn)強(qiáng)制標(biāo)準(zhǔn)。

結(jié)論

長(zhǎng)盛CS19011A/B局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀器是現(xiàn)代高可靠電力電子與電氣裝備不能缺少的“絕緣醫(yī)生"。其在IGBT、電子變壓器、電機(jī)、光耦等核心領(lǐng)域的深度應(yīng)用,是保障新能源汽車(chē)、可再生能源、智能電網(wǎng)、工業(yè)自動(dòng)化等關(guān)鍵產(chǎn)業(yè)安全高效運(yùn)行的技術(shù)基石。隨著電壓等級(jí)提升、功率密度增大和應(yīng)用環(huán)境惡化,PD測(cè)試的重要性將愈發(fā)凸顯,并持續(xù)向更高靈敏度、更強(qiáng)抗干擾、更智能診斷的方向演進(jìn)。

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適用標(biāo)準(zhǔn)

??本系列儀器符合測(cè)試適用標(biāo)準(zhǔn)

符合IEC60270(GB/T7354)、IEC 60747-15、IEC1287標(biāo)準(zhǔn)的要求。

特別性能

??長(zhǎng)盛CS19011A/B局部放電安規(guī)綜合測(cè)試儀器的特點(diǎn)

1.實(shí)時(shí)的Q/V、Q/t趨勢(shì)圖:可觀測(cè)實(shí)時(shí)升降壓及測(cè)試過(guò)程中的局部放電變化趨勢(shì);

2.精準(zhǔn)的小信號(hào)測(cè)量:可測(cè)量1pC的電量,分辨率0.1pC。細(xì)微之處,盡顯眼底

3.HVCC檢測(cè)功能:避免塑封過(guò)程及測(cè)試夾具因素導(dǎo)致的接觸誤判;

4.適用性廣:可適用于光隔離器、IGBT、電子變壓器、高壓繼電器、定子、線(xiàn)材及絕緣材料的測(cè)試;

5.測(cè)試設(shè)置靈活:可根據(jù)測(cè)試模式,自由設(shè)置測(cè)試步驟、參數(shù),適用不同標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求;

6.實(shí)時(shí)、細(xì)致的服務(wù):及時(shí)針對(duì)客戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)出現(xiàn)的測(cè)試及自動(dòng)化配套問(wèn)題,提供復(fù)雜環(huán)境下的測(cè)試解決方案。

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測(cè)試Q-V、Q-t趨勢(shì)圖

Q-V趨勢(shì)圖:橫坐標(biāo):測(cè)試電壓,單位kV;縱坐標(biāo):放電量,單位pC,黑線(xiàn):電壓上升過(guò)程的放電曲線(xiàn);紅線(xiàn):電壓下降過(guò)程中的放電曲線(xiàn))

Q-t趨勢(shì)圖:橫坐標(biāo):測(cè)試時(shí)間,單位s;縱坐標(biāo):放電量,單位pC。

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